Biasing scheme for improving latitudes in the tri-level...

G - Physics – 03 – G

Patent

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Details

314/12, 96/224

G03G 15/01 (2006.01) G03G 13/01 (2006.01)

Patent

CA 2027439

The operating latitude of the tri-level xerographic process is improved by replacing the standard DC bias that is applied to one or both of the developer housings in conventional tri-level imaging with a chopped DC (CDC) developer bias. Chopped DC biasing is the alternate application of two discrete bias voltages to a developer strucrute in a periodic fashion at a given frequency, with the period of each cycle divided up between the two bias levels at a duty cycle of from 5-10 % or 90-95% depending upon which of the two developer structures is being biased. In the case of the DAD developer structure the duty cycle of higher of the two biases is 5-10% and in the case of a CAD developer structure the duty cycle of higher of the two biases is 90-95%.

On peut améliorer la latitude de travail d'un processus xérographique à trois niveaux en remplaçant la tension de polarisation continue standard qui est appliquée à l'un des deux logements de développement ou aux deux logements d'un système d'imagerie à trois niveaux courant par une tension de polarisation continue découpée. La polarisation par une tension continue découpée consiste à appliquer de façon alternée deux tensions de polarisation discrètes à une structure de développement de façon périodique à une fréquence donnée, la période de chaque cycle étant divisée entre les deux niveaux de polarisation selon un facteur d'utilisation allant de 5 à 10 % ou de 90 à 95 % selon celle des deux structures de développement qui est polarisée. Dans le cas d'une structure de développement à décharge, le facteur d'utilisation de la tension de polarisation la plus élevée varie de 5 à 10 % et, dans le cas d'une structure de développement à charge, le facteur d'utilisation de la tension de polarisation la plus élevée varie de 90 à 95 %.

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