Birefringence measurement system

Details Birefringence measurement system Birefringence measurement system

G - Physics

01

J

G01J 4/04 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) G01N 21/23 (2006.01)

Patent

CA 2319729

A practical system and method for precisely measuring low-level birefrigence properties (retardance and fast axis orientation) of optical materials (26). The system permits multiple measurements to be taken across the area of a sample to detect and graphically display (100) variations in the birefrigence properties across the sample area. In a preferred embodiment, the system incorporates a photoelastic modulator (24) for modulating polarized light that is then directed through a sample (26). The beam ("Bi") propagating from the sample is separated into two parts, with one part ("B1") having a polarization direction different than the polarization direction of the other beam part ("B2"). These separate beam parts are then processed as distinct channels. Detection mechanisms (32, 50) associated with each channel detect the time varying light intensity corresponding to each of the two parts of the beam. This information is combined for calculating a precise measure of the retardance induced by the sample, as well as the sample's fast axis orientation.

L'invention concerne un système et un procédé pratiques de mesure précise de propriétés de biréfringence à faible niveau (retard et orientation d'axe rapide) de matières optiques (26). Le système permet d'effectuer plusieurs mesures dans une zone d'un échantillon pour détecter et afficher (100) graphiquement des variations de propriétés de biréfringence dans la zone d'échantillon. Dans un mode de réalisation préféré, le système comprend un modulateur photoélastique (24) permettant de moduler une lumière polarisée qui est alors orientée à travers un échantillon (26). Le faisceau ("Bi") se propageant à partir de l'échantillon est séparé en deux parties, une partie ("B1") possédant un sens de polarisation différent du sens de polarisation de l'autre partie ("B2") du faisceau. Ces parties de faisceau séparées sont alors traitées comme des canaux distincts. Des mécanismes de détection (32, 50) associés à chaque canal détectent l'intensité de lumière variant avec le temps correspondant à chaque partie du faisceau. On combine ces informations pour calculer une mesure précise du retard subi par l'échantillon ainsi que l'orientation d'axe rapide de l'échantillon.

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