Board for testing microwave semiconductor components

Details Board for testing microwave semiconductor components Board for testing microwave semiconductor components

G - Physics

01

R

356/2

G01R 31/28 (2006.01) G01R 1/073 (2006.01)

Patent

CA 2012887

13 ABREGE CARTE A POINTES POUR LE TEST DES COMPOSANTS SEMICONDUCTEURS HYPERFREQUENCES. L'invention concerne une carte à pointe de tests pour les composants semiconducteurs hyperfréquences. Le coeur d'une carte support (12), de dimensions normalisées pour les appareils de tests sous pointes existant, est remplacé par un circuit (15) centré sur la fenêtre de mesure qui supporte les pointes (24). Sur ce circuit (15) la propagation des signaux se fait au moyen de lignes microbandes (18) qui réunissent les pointes (24) à des connecteurs radiaux (21) hyperfréquences. Le circuit hyperfréquence est formé sur une plaque de cuivre (17) sur laquelle est laminée une feuille diélectrique (16), et des secteurs de masse (19) séparent les lignes microbandes (18). Des composants passifs (30) ou actifs (31,32) sont reportés au plus près des pointes, sur le circuit hyperfréquence (15) et sur la carte support (12). Application aux tests de composants hyperfréquences, sous pointes, jusque 5 à 6 GHz dans une gamme de température jusqu'à 125° C. FIGURE 4

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