G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 11/22 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3185 (2006.01)
Patent
CA 2291681
There are provided a boundary scan element including a plurality of input-terminal-side boundary cells connected in series and assigned individually to respective input terminals, a plurality of output-terminal-side boundary cells connected in series and assigned individually to respective output terminals, a TAP circuit for controlling input and output of data to or from the input-terminal- side and output-terminal-side boundary cells, a TDI terminal for inputting serial data to be provided to the boundary cells, a TDO terminal for outputting data from the boundary cells as serial data, a TCK terminal to which a clock signal is input, and a TMS terminal to which a mode signal is input to switch an operation mode of the TAP circuit, characterized in that the input-terminal-side boundary cells and the output-terminal-side boundary cells are connected in parallel between the TDI terminal and the TDO terminal; and a communication system using the same.
L'invention concerne un élément de test périphérique comprenant une pluralité de cellules périphériques côté borne d'entrée, affectées individuellement à des bornes d'entrée respectives et connectées en série, une pluralité de cellules périphériques côté borne de sortie, affectées individuellement à des bornes de sortie respectives et connectées en série, un circuit TAP pour commander l'entrée des données dans les cellules périphériques côté borne d'entrée et leur sortie depuis les cellules périphériques côté borne de sortie, une borne TDI (entrée données test) pour introduire des données sérielles devant être transmises aux cellules périphériques, une borne TDO (sortie données test) pour extraire des données des cellules périphériques sous forme de données sérielles, une borne TCK (horloge test) pour recevoir un signal d'horloge et une borne TMS (sélection mode test) pour recevoir un signal de mode afin de changer le mode de fonctionnement du circuit TAP. L'élément de test périphérique est caractérisé en ce que les cellules périphériques côté borne d'entrée et les cellules périphériques côté borne de sortie sont connectées en parallèle entre la borne TDI et la borne TDO. L'invention concerne également un dispositif de communication réalisé à l'aide dudit élément.
Duaxes Corporation
Koken Co. Ltd.
Marks & Clerk
Nagoya Mitsugu
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1529129