G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 11/22 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3185 (2006.01)
Patent
CA 2291682
Provided is a boundary scan element which includes a plurality of input terminal side boundary cells which are connected in series, each being individually allocated to corresponding one of input terminals; a plurality of output terminal side boundary cells which are connected in series, each being individually allocated to corresponding one of output terminals; a TAP circuit for controlling input/output of data to/from the boundary cells on the input/output terminal sides a TDI terminal for receiving serial data to be supplied to the boundary cells a TDO terminal for outputting the data from the boundary cells as serial data; a TCK terminal for receiving clock signals; and a TMS terminal for receiving a mode signal to switch an operation mode of the TAP circuit, wherein the boundary cells on the input/output terminal sides are connected in parallel between the TDI and TDO terminals, respectively, and wherein two sets of combinations composed of the input terminal side boundary cells, the output terminal boundary cells, the TDI terminal, the TDO terminal and the TAP circuit are provided.
L'invention concerne un élément de test périphérique comprenant une pluralité de cellules périphériques du côté de la borne d'entrée, affectées respectivement aux bornes d'entrée et connectées en série à celles-ci, une pluralité de cellules périphériques du côté de la borne de sortie, affectées respectivement aux bornes de sortie et connectées en série à celles-ci, un circuit TAP pour commander l'entrée et la sortie des données en direction et à partir des cellules périphériques du côté de la borne d'entrée et du côté de la borne de sortie, des bornes TDI (entrée données test) pour recevoir des données série qui doivent être transmises aux cellules périphériques, des bornes TDO (sortie données test) pour sortir des données des cellules périphériques sous forme de données série, des bornes TCK (horloge test) pour recevoir des signaux d'horloge, et des bornes TMS (sélection mode test) pour recevoir un signal de mode afin de changer le mode de fonctionnement du circuit TAP. Les cellules périphériques du côté de la borne d'entrée et les cellules périphériques du côté de la borne de sortie sont connectées en parallèle entre les bornes TDI et les bornes TDO. L'élément de test périphérique est caractérisé en ce qu'il comporte deux groupes comprenant chacun les cellules périphériques du côté de la borne d'entrée, les cellules périphériques du côté de la borne de sortie, les bornes TDI, les bornes TDO et le circuit TAP.
Duaxes Corporation
Koken Co. Ltd.
Marks & Clerk
Nagoya Mitsugu
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1415094