Calibrating gauge for calibrating a vernier caliper

G - Physics – 01 – B

Patent

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Details

G01B 3/30 (2006.01)

Patent

CA 2622279

The invention relates to a calibrating gauge for calibrating a Vernier caliper. According to the invention, the gauge has at least one calibrating face for calibrating a measuring surface for internal measurement, at least one calibrating face for calibrating a measuring surface for external measurement (3) and at least one calibrating face for calibrating a measuring surface for depth measurement (4), the calibrating gauge (1) being in the shape of an least partly hollow cylinder, on the generated surface (6) of which is provided the calibrating face for calibrating the measuring surface for the external measurement and on the inner surface (10) of which is provided the calibrating face for calibrating the measuring surface for the internal measurement, and the calibrating face for calibrating the measuring surface for the depth measurement being provided on at least one of the end faces (5) of the cylinder.

L'invention concerne un calibre étalon destiné à l'étalonnage d'un calibre à coulisse. L'invention est caractérisée en ce qu'il est prévu sur ce calibre étalon, au moins une surface d'étalonnage pour l'étalonnage d'une surface de mesure pour la mesure intérieure, au moins une surface d'étalonnage pour l'étalonnage d'une surface de mesure pour la mesure extérieure (3), et au moins une surface d'étalonnage pour l'étalonnage d'une surface de mesure pour la mesure en profondeur (4), en ce que le calibre étalon (1) a la forme d'un cylindre au moins partiellement creux, sur la surface latérale duquel (6), sont prévues la surface d'étalonnage pour l'étalonnage de la surface de mesure pour la mesure extérieure et, sur sa surface intérieure (10), la surface d'étalonnage pour l'étalonnage de la surface de mesure pour la mesure intérieure, et en ce qu'il est prévu, sur au moins l'une des parties frontales (5) du cylindre, la surface d'étalonnage pour l'étalonnage de la surface de mesure pour la mesure en profondeur.

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