Carrier for holding test samples

B - Operations – Transporting – 01 – L

Patent

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Details

B01L 9/00 (2006.01) G01N 35/00 (2006.01)

Patent

CA 2535869

A carrier for holding up to N test sample devices as they are moved through a sample testing instrument. Each of the test sample devices are held in a receiving structure such as a slot in the carrier. The carrier also includes N optical interrupt positioning features, each placed in registry with one of the receiving structures (and thereby in registry with the test sample device). The instrument includes fixed optical interrupt sensors for detecting the position of the positioning feature as the carrier is moved through the instrument. In the illustrated embodiment, the position features comprise voids formed in a rib on the lower surface of the carrier. The optical interrupt sensors are positioned below the path the carrier travels over, whereby as the carrier moves past the sensor the voids, and hence position of the test sample devices, are detected.

L'invention concerne un support pouvant maintenir jusqu'à N dispositifs comportant des échantillons pour essais lors de leur déplacement à travers un instrument d'essai d'échantillons. Chaque dispositif comportant des échantillons pour essais est maintenu dans une structure réceptrice, se présentant par exemple sous la forme d'une fente ménagée dans le support. Ce support présente également N éléments de positionnement à interrupteur optique, aligné chacun sur une des structures réceptrices (et par conséquent aligné sur le dispositif comportant l'échantillon). Cet instrument présente des détecteurs fixes à interrupteur optique, servant à détecter la position de l'élément de positionnement lors du passage du support à travers l'instrument. Dans le mode de réalisation présenté, les éléments de positionnement comprennent des cavités formées dans une nervure sur la surface inférieure du support. Les détecteurs à interrupteur optique sont positionnés sous le trajet du support, ce qui permet la détection des cavités et par conséquent de la position des dispositifs comportant les échantillons pour essais lors du passage du support devant les détecteurs.

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