H - Electricity – 01 – M
Patent
H - Electricity
01
M
H01M 10/48 (2006.01) G01R 31/36 (2006.01) H02J 7/00 (2006.01) G01R 31/02 (2006.01)
Patent
CA 2208653
A cell evaluating method according to the present invention is one of evaluating characteristics of a secondary cell which can be repeatedly used by charge and includes a step of detecting a cell voltage after a predetermined first charge operation for the cell is started, a step of, if the detected cell voltage is smaller than a reference voltage, proceeding to a second charge operation different from the predetermined first charge operation, and a step of then evaluating a state of the cell. Moreover, a cell evaluating method according to the present invention is one of evaluating characteristics of a secondary cell which can be repeatedly used by charge and includes a step of carrying out a first cell voltage detection after a first predetermined period of time has passed since a halt of charge or discharge of a cell, a step of carrying out a second cell voltage detection after a second predetermined period of time has passed, and a step of evaluating, if a difference between results of the first and second detections is not smaller than a predetermined value, that an internal short circuit occurs in the cell.
Méthode d'évaluation d'éléments d'accumulateur qui, selon la présente invention, évalue les caractéristiques d'un élément secondaire pouvant être utilisé fréquemment par une charge. La méthode comprend une étape de détection de la tension d'élément après une première opération de charge prédéterminée et avant la mise sous tension de l'élément; une étape consistant à procéder à une seconde opération de charge différente de la première si la tension d'élément détectée est inférieure à une tension de référence; et une étape d'évaluation de l'état de l'élément d'accumulateur. De plus, selon la présente invention, une méthode d'évaluation d'éléments d'accumulateur permet d'évaluer les caractéristiques d'un élément secondaire pouvant être utilisé fréquemment par une charge. La méthode comprend une étape de première détection de la tension d'élément après une première période de temps prédéterminée à la suite de l'arrêt de la charge ou de la décharge d'élément; une étape consistant à détecter une seconde fois la tension d'élément après une seconde période de temps prédéterminée; et une étape pour évaluer, dans le cas où la différence entre les résultats de la première et de la seconde détection n'est pas inférieure à une valeur prédéterminée, s'il y a eu court-circuit à l'intérieur des éléments d'accumulateur.
Nagai Tamiji
Suzuki Kuniharu
Takei Toshitaka
Gowling Lafleur Henderson Llp
Sony Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1945410