G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 1/14 (2006.01) G01N 1/24 (2006.01) G01N 1/40 (2006.01) G01N 33/22 (2006.01) G01N 27/62 (2006.01) G08C 17/00 (2006.01)
Patent
CA 2649186
This invention describes a sample collection method that could release and collect residues of explosives and other chemicals from a surface; the described method is implemented into a compact detection system that can be used as a "wand" for screening chemicals residues on a subject. The wand configuration includes multi-function for sampling and detecting multiple threads. The invention further describes a method of inspecting a subject using an interrogating apparatus in a sweeping motion; the near range closed loop particle sampling arrangement allows effective collection of particle and vapor residues from a targeted surface. The invention also describes a sampling and detecting apparatus for on-the-fly threat detection using compact ion mobility based detectors.
L'invention concerne un procédé de collecte d'échantillons susceptible de libérer et collecter des résidus d'explosifs et autres produits chimiques d'une surface. Le procédé décrit est mis en AEuvre dans un système de détection compact qui peut être utilisé comme un "bras" pour le criblage de résidus de produits chimiques sur un sujet. La configuration en bras comprend des fonctions multiples d'échantillonnage et de détections de multiples fils. L'invention décrit en outre un procédé d'inspection d'un sujet en utilisant un appareil d'interrogation en un mouvement de balayage ; l'arrangement d'échantillonnage de particules en boucle fermée de portée proximale permet la collecte efficace de particules et de résidus de vapeur d'une surface cible. L'invention décrit en outre un appareil d'échantillonnage et de détection pour la détection de menaces à la volée en utilisant des détecteurs compacts basés sur la mobilité des ions.
Excellims Corporation
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1756234