Coin testing apparatus and method

G - Physics – 07 – D

Patent

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Details

G07D 5/00 (2006.01) G07D 5/02 (2006.01) G07F 3/02 (1995.01)

Patent

CA 2255642

A method of coin testing is provided in which a laser beam (13) is directed onto a face of a coin (4) and a laser detector (3) is used to detect where the laser beam is intercepted by the coin and where the laser beam is not intercepted by the coin, so as to obtain an indication of a characteristic of the face of the coin. The characteristic of the coin is used to identify the coin. The invention also relates to an apparatus for coin testing, which comprises a laser source (11) to direct a laser beam (13) onto a face of a coin (4), a laser detector (3) for detecting where the laser is intercepted by the coin and where the laser is not intercepted by the coin, and a signal-processor (14) which obtains an indication, from an output of the laser detector (3), of a characteristic of the face of the coin which is used to identify the coin.

L'invention concerne un procédé de test de pièces dans lequel un faisceau laser (13) est dirigé sur une face d'une pièce (4) et un détecteur (3) de faisceau laser est utilisé pour détecter l'endroit où le faisceau laser est intercepté par la pièce et où le faisceau laser n'est pas intercepté par la pièce, afin d'obtenir une indication d'une caractéristique de la face de la pièce. La caractéristique de la pièce est utilisée pour son identification. L'invention concerne également un appareil de test de pièces comprenant une source laser (11) destinée à orienter un faisceau laser (13) sur une face d'une pièce (4), un détecteur (3) de faisceau laser destiné à détecter l'endroit où le faisceau laser est intercepté par la pièce et où ledit faisceau laser n'est pas intercepté par la pièce, ainsi qu'un processeur (14) de signaux obtenant une indication, à partir d'une sortie du détecteur (3) de faisceau laser, d'une caractéristique de la face de la pièce utilisée pour son identification.

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