G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 9/02 (2006.01) G01N 21/00 (2006.01)
Patent
CA 2590790
An optical device under test (DUT) is interferometrically measured. The DUT can include one or more of an optical fiber, an optical component, or an optical system. First interference pattern data for the DUT is obtained for a first path to the DUT, and second interference pattern data for the DUT is obtained for a second somewhat longer path to the DUT. Because of that longer length, the second interference pattern data is delayed in time from the first interference pattern data. A time varying component of the DUT interference pattern data is then identified from the first and second interference pattern data. The identified time varying component is used to modify the first or the second interference pattern data to compensate for the time-varying phase caused by vibrations, etc. One or more optical characteristics of the DUT may then be determined based on the modified interference pattern data.
Selon l'invention, on mesure par interférométrie un dispositif optique à l'essai ("optical device under test" ou DUT). Le dispositif DUT peut comprendre une fibre optique et/ou un composant optique et/ou un système optique. On obtient de premières données de motif d'interférence du dispositif DUT pour une première trajectoire vers le DUT, et on obtient de secondes données de motif d'interférence du dispositif DUT pour une seconde trajectoire légèrement plus longue vers le DUT. En raison de cette longueur supérieure, les secondes données de motif d'interférence sont retardées dans le temps par rapport aux premières données de motif d'interférence. On identifie alors une composante variant dans le temps des données de motif d'interférence du DUT à partir des premières et des secondes données de motif d'interférence. On utilise la composante variant dans le temps identifiée pour modifier les premières ou les secondes données de motif d'interférence afin de compenser la phase variant dans le temps causée par les vibrations, etc. On peut alors déterminer une ou plusieurs caractéristiques optiques du dispositif DUT sur la base des données de motif d'interférence modifiées.
Froggatt Mark
Gifford Dawn K.
Luna Innovations Inc.
Marks & Clerk
LandOfFree
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