G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 29/26 (2006.01) G01R 27/32 (2006.01)
Patent
CA 2747779
Methods and systems are described for measuring data in a test setup including an impedance tuner. In an exemplary embodiment, the data is data for measuring noise parameters. The data is measured versus a sweep parameter for one tuner state at a time.
Linvention concerne des procédés et des systèmes de mesure de données dans un circuit dessai comprenant un syntoniseur à impédance. Dans un mode de réalisation illustratif, les données sont des données permettant de mesurer des paramètres de bruit. Les données sont mesurées par rapport à un paramètre de balayage pour un état de syntoniseur à la fois.
Maury Microwave Inc.
Sim & Mcburney
LandOfFree
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