Defect recognition system, mainly for internal defects, such...

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G - Physics

01

N

349/44

G01N 29/04 (2006.01) G01N 29/06 (2006.01) G01N 29/11 (2006.01) G01N 29/30 (2006.01) G01N 29/38 (2006.01) G01N 29/44 (2006.01)

Patent

CA 1232671

Abrégé L'invention concerne un procédé de détection de défauts, notamment internes, tels que fissures, par lequel on émet des ondes ultrasonores longitudinales d'une fréquence comprise entre 1 et 6 MHz sous un angle d'incidence de 60 ? 3° sur la paroi ou surface de l'une des deux pièces en direction de la zone à contrôler; on détecte le premier écho réfléchi pendant un laps de temps prédéterminé et de préférence on compare cet écho avec un écho de référence pour déterminer la présence ou l'absence de défauts dans le métal de base et/ou dans le métal d'apport et/ou au niveau de chaque interface.

459166

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