G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 33/00 (2006.01) A61B 5/06 (2006.01) A61B 6/12 (2006.01) A61N 1/08 (2006.01) G01V 3/08 (2006.01)
Patent
CA 2405141
A process detects distortions to magnetic location or orientation determinations. The process includes measuring a plurality of magnetic field values, determining one of a probe's lo-cation (12) and a probe's orientation from an extremum of an opti-mization function. The measured values depend on the probe's lo-cation (12) and orientation. The optimization function depends on the measured field values and field values calculated from a model. The process also includes indicating that a distortion to the deter-mining exists in response to the extremum belonging to a prese-lected range.
L'invention concerne un procédé servant à détecter des distorsions relatives à des déterminations d'orientation ou d'emplacement magnétiques. Le procédé selon l'invention comprend la mesure d'une pluralité de valeurs de champ magnétique, la détermination d'un emplacement (12) et d'une orientation d'une sonde à partir d'un extremum d'une fonction d'optimisation. Les valeurs mesurées dépendent de l'emplacement (12) et de l'orientation de la sonde. La fonction d'optimisation dépend des valeurs de champ mesurées et des valeurs de champ calculées selon un modèle. Le procédé selon l'invention peut également inclure l'indication qu'une distorsion par rapport à la détermination existe en réaction à l'extremum appartenant à une plage présélectionnée.
Kirsch Stefan R.
Schilling Christian J.
Northern Digital Inc.
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1951879