G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/45 (2006.01) G01D 5/26 (2006.01) G01D 5/34 (2006.01) G01K 11/00 (2006.01) G01M 11/02 (2006.01) G01N 21/41 (2006.01) G01N 21/75 (2006.01) A61B 5/01 (2006.01)
Patent
CA 2511960
An object of the invention is to provide a detection apparatus, an optical path length measuring apparatus, a method for evaluating an optical member, and the like, which can evaluate optical characteristics such as chromatic dispersion and an optical path length at a high speed. Another object is to provide a detection apparatus and a method for detecting a change in temperature, which can evaluate chemical and biological reactions and an effect of hyperthermia with high accuracy. In a detection apparatus 10A, zero-order light B0 undergoing chromatic dispersion of a measurement object S is superimposed on first-order light B1 shifted in frequency, whereby a low-frequency beat is produced, and wavelength dependence of a beat phase thereof is measured. Moreover, using an AC electric signal from a frequency shifter 12 as a phase reference signal, a relative position of a probe signal is detected. In addition, it is effective to shift the frequencies of probe light and reference light having mutually different wavelengths and determine a beat phase of probe light in a relative manner on the basis of a beat phase of reference light.
L'invention concerne un dispositif de détection, un dispositif de mesure de longueur de trajet optique, ainsi qu'un procédé d'évaluation d'élément optique destiné à évaluer rapidement les caractéristiques optiques, telles que la dispersion de longueur d'onde et la longueur de trajet optique. L'invention concerne également un dispositif de détection et un procédé de détection de changements de température destiné à évaluer avec précision une réaction chimique/biologique et un effet thermique. Dans le dispositif de détection (10A), une lumière de degré zéro (B0) soumise à la dispersion de longueur d'onde d'un objet (S) à mesurer, et une lumière primaire (B1) dont la fréquence est déplacée, sont superposées, ce qui permet de produire un battement basse fréquence servant à mesurer la dépendance de longueur d'onde de la phase de battement. De plus, l'utilisation d'un signal électrique de courant alternatif provenant d'un déplaceur de fréquence (12) comme signal de référence de phase permet de détecter une phase relative du signal de mesure. Il est également possible de soumettre une lumière de mesure et une lumière de référence présentant des longueurs d'onde différentes à un déplacement de fréquence, respectivement, de sorte que la phase de battement de la lumière de mesure soit obtenue relativement, en fonction de la phase de battement de la lumière de référence utilisée comme référence.
Bussan Nanotech Research Institute Inc.
Ltd. Fujikura
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1449555