G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 37/00 (2006.01) G01N 21/27 (2006.01)
Patent
CA 2224994
The present invention provides apparatus and methods for determining the concentration of sample components of a sample by an analytical technique that yields a spectrum that can be written as Y(.omega.) = P(.omega.) . C. The apparatus and methods of the invention account for experimental errors that give rise to distortions in the observed spectrum and that consequently result in inaccurate determinations of sample component concentrations. The invention accounts for such errors by modeling the total experimental error as the sum of one or more types of errors that can be written as . K. The spectrum is then modeled as Y = P . C + . K. Using the observed spectrum, known values for P, and a mathematical model for , this equation can be solved for the best fit value of the sample component concentrations, C, and the magnitudes of the errors, K. The method can be used for any error that can be modeled in the foregoing manner, such as a shift in the spectrum. Particular types of shift include constant shift as well as linear shift across the entire spectrum. The apparatus and methods are advantageously used in absorbance spectroscopy and chromatography.
La présente invention concerne un appareil et un procédé permettant de déterminer dans un échantillon la concentration des composants de l'échantillon, et ce, grâce à une technique analytique donnant un spectre pouvant s'écrire comme suit Y(.omega.) = P(.omega.) . C. L'appareil et le procédé de l'invention tiennent compte des erreurs expérimentales sources de distorsions dans le spectre observé et ayant pour résultat des déterminations inappropriées des concentrations de composants de l'échantillon. Pour tenir compte de telles erreurs, le procédé de l'invention consiste à modéliser l'erreur expérimentale totale sous la forme de la somme d'un ou de plusieurs types d'erreurs pouvant s'écrire ? . K. Le modèle du spectre peut alors s'écrire Y = P . C + ? . K. En partant du spectre observé, des valeurs connues de P, et d'un modèle mathématique pour ?, la résolution de cette équation donne la valeur de meilleur ajustement des concentrations C des composants de l'échantillon et des marges d'erreur K. Ce procédé est utilisable pour n'importe quel type d'erreur modélisable de la façon décrite, par exemple un décalage spectral. Les décalages spectraux concernés sont notamment le décalage constant ainsi que le décalage linéaire du spectre entier. Cet appareil et ce procédé conviennent particulièrement à la spectroscopie et à la chromatographie par absorbance.
Scharlack Ronald S.
Sodickson Lester
Chiron Diagnostics Corporation
Corporation Bayer
Gowling Lafleur Henderson Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1524864