G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 7/28 (2006.01) G01N 27/90 (2006.01)
Patent
CA 2477263
A method of determining a surface profile of an electrically conductive object, using probe comprising a transmitter/receiver arrangement for inducing transient eddy currents in the object, for providing a signal indicative of a magnetic field property, the method comprising: a) selecting a calibration point on the surface, and a number of calibration positions of the transmitter/receiver arrangement; b) determining a set of calibration values by determining, for each of the calibration positions, a characteristic value of the signal generated in the receiver in response to transient eddy currents induced in the object by the transmitter, wherein the characteristic value relates to the amplitude of the signal; c) determining a calibration function which relates the calibration values to the relative location of calibration position and calibration point; d) selecting a set of inspection points on the surface of the object, and a set of corresponding inspection positions of the transmitter/receiver arrangement; e) determining a set of inspection values by determining, for each of the inspection positions, a characteristic value of the signal generated in the receiver in response to transient eddy currents induced in the object by the transmitter; and f) determining the surface profile by interpreting the set of inspection values, using the calibration function, wherein the relative location of inspection points and corresponding inspection positions is derived.
L'invention concerne un procédé pour déterminer le profil d'une surface d'un objet électriquement conducteur, au moyen d'une sonde comprenant un ensemble émetteur/récepteur pour induire des courants eddy transitoires dans l'objet et pour générer un signal indiquant une propriété de champ magnétique, ce procédé comprenant les opérations suivantes: a) sélectionner un point de calibrage sur la surface et un certain nombre de positions de calibrage de l'ensemble émetteur/récepteur; b) déterminer une série de valeurs de calibrage en indiquant, pour chacune des positions de calibrage, une valeur caractéristique du signal généré dans le récepteur en réponse aux courants eddy transitoires induits dans l'objet par l'émetteur, cette valeur caractéristique concernant l'amplitude du signal; c) déterminer une fonction de calibrage qui met en rapport les valeurs de calibrage et l'emplacement relatif de la position de calibrage et du point de calibrage; d) sélectionner une série de points de contrôle sur la surface de l'objet et une série d'emplacements de contrôle correspondants de l'ensemble émetteur/récepteur; e) déterminer une série de valeurs de contrôle en indiquant, pour chacun des emplacements de contrôle, une valeur caractéristique du signal généré dans le récepteur en réponse aux courants eddy transitoires induits dans l'objet par l'émetteur; et f) déterminer le profil de la surface en interprétant la série des valeurs de contrôle et en utilisant la fonction de calibrage, l'emplacement relatif des points de contrôle et des emplacements de contrôle correspondants en étant dérivé.
Ogilvy Renault Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Shell Internationale Research Maatschappij B.v.
LandOfFree
Determining a surface profile of an object does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Determining a surface profile of an object, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Determining a surface profile of an object will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1531818