G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 21/08 (2006.01)
Patent
CA 2669372
The invention relates to a device for measuring layer thicknesses, especially of a part (18) during or following a coating process. Said device comprises at least one first and a second distance measuring apparatus (12, 14). The first distance measuring apparatus (12) makes it possible to measure a first distance (a) to a surface (20) of a layer (22) that is to be applied to the part (18) while the second distance measuring apparatus (14) makes it possible to measure a second distance (b) to an uncoated surface (24) of the part (18), the measurements being taken continuously or at predefined points in time. According to the invention, the device (10) further comprises at least one third distance measuring apparatus (16) for measuring and monitoring the position of the first distance measuring apparatus (12) relative to the part (18), said third distance measuring apparatus (16) making it possible to measure a third distance (c) in a continuous manner or at predefined points in time in order to determine the position of the part (18). The invention also relates to a method for measuring layer thicknesses, particularly of a part (18) during or following a coating process.
La présente invention concerne un dispositif pour mesurer des épaisseurs de couches, en particulier pour mesurer des épaisseurs de couches d'un composant (18) pendant ou après un processus d'enduction. Ce dispositif comprend au moins un premier et un deuxième appareil de mesure de longueur de parcours (12, 14), le premier appareil de mesure de longueur de parcours (12) permettant de mesurer une première longueur de parcours (a) jusqu'à une surface (20) d'une couche (22) à appliquer sur le composant (18) et le deuxième appareil de mesure de longueur de parcours (14) permettant de mesurer une deuxième longueur de parcours (b) jusqu'à une surface non enduite (24) du composant (18) de façon continue ou à des instants prédéfinis. Selon l'invention, le dispositif (10) comprend en outre au moins un troisième appareil de mesure de longueur de parcours (16) servant à mesurer et contrôler la position du premier appareil de mesure de longueur de parcours (12) par rapport au composant (18), ce troisième appareil de mesure de longueur de parcours (16) permettant de mesurer une troisième longueur de parcours (c) pour déterminer la position du composant (18) de façon continue ou à des instants prédéfinis. L'invention concerne en outre un procédé pour mesurer des épaisseurs de couches, en particulier pour mesurer des épaisseurs de couches d'un composant (18) pendant ou après un processus d'enduction.
Hertter Manuel
Jakimov Andreas
Schneiderbanger Stefan
Mtu Aero Engines Gmbh
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1711343