Device and process for determining film thickness and...

G - Physics – 01 – R

Patent

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G01R 31/28 (2006.01) G01B 7/06 (2006.01) G01R 31/302 (2006.01) G06K 7/08 (2006.01) G06K 19/067 (2006.01)

Patent

CA 2232162

A device for determining the thickness of conductive metal patterns plated on insulating surfaces, such as credit cells in prepaid telephone debit cards, comprising a plurality of sensing modules equal in number to the credit cells in said cards, each module consisting of an oscillator (30) wherein the inductance is provided by a pair of collinear sensing coils (24a, 24b), aligned with the true position of its relative credit cell (25), the output (26) of said sensing assembly being connected to the input of an A/D converter (40) whose output is connected to computing means (11, 21) provided with memory means. Said oscillators are enabled by turns, the output voltage being converted to a numeric value. The converter parameters are adjusted for each sensing module according to coefficients stored in said memory, to compensate for component variations, sensing coil position and so on. The resultant numeric value is processed by the computing means according to a transfer curve (53) which is specific for each sensing module, so as to furnish the film thickness. Said coefficients and transfer curves are previously determined for each one of the positions in the cell array by means of individual calibration, using standard cards of known metal film thickness.

Dispositif permettant de déterminer l'épaisseur des motifs métalliques conducteurs plaqués sur des surfaces isolantes, comme par exemple des cellules de crédit dans des cartes téléphoniques à prépaiement, constitué d'une pluralité de modules capteurs en nombre égal à celui des cellules de crédit dans les cartes, chaque module étant constitué d'un oscillateur (30) dans lequel l'inductance est créée par une paire de bobines de détection colinéaires (24a, 24b) alignée avec la position centrée de la cellule de crédit correspondante (25), la sortie (26) de l'ensemble de détection étant reliée à l'entrée d'un convertisseur A/N (40) dont la sortie est reliée à un ordinateur (11, 21) muni d'une unité de mémoire. Les oscillateurs sont activés successivement, la tension de sortie étant convertie en une valeur numérique. Les paramètres de conversion sont réglés pour chaque module détecteur en fonction des coefficients stockés dans la mémoire, de façon à compenser les variations des composants, de la position de la bobine de détection, etc. La valeur numérique résultante est traitée par l'ordinateur suivant une courbe de transfert (53) spécifique à chaque module de détection, ce qui donne l'épaisseur de pellicule. Les coefficients et courbes de transfert sont précédemment déterminés pour chacune des positions dans l'ensemble de cellules au moyen d'un calibrage individuel, à partir de cartes de référence dont l'épaisseur de la pellicule métallique est connue.

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