G - Physics – 01 – C
Patent
G - Physics
01
C
G01C 25/00 (2006.01) G01C 1/02 (2006.01)
Patent
CA 2534041
The invention relates to a device for checking or calibrating the angle- dependent alignment of a reference structure on a high-precision test-piece (1). The device comprises a plinth (2), a retainer piece (3), mounted such as to rotate about a retainer piece axis (4), for retaining the test-piece (1) and a measuring piece (5) with a measuring piece bearing unit (6), for the rotational mounting of the measuring piece (5), about a measuring piece axis (7). An optical unit (8) is mounted on the measuring piece (5), for receiving at least one test-piece beam (10, 10a, 10b, 10c, 10d), interacting with the reference structure on the test piece (1), running essentially in a measuring plane (11). The measuring piece bearing unit (6) is arranged to one side of the measuring plane (11) or on the measuring plane (11). The measuring piece (5) comprises a base form which is for a large part axially symmetrical with the measuring piece axis (7) and encompasses or surrounds the intersection of the measuring piece axis (7) with the retainer piece axis (4) on the measuring plane (11) and hence also encompasses or surrounds the test-piece (1).
L'invention concerne un dispositif pour vérifier ou étalonner l'alignement, dependant de sa position angulaire, d'une structure de référence d'une éprouvette (1) de haute précision. Ce dispositif comprend un socle (2), une partie de retenue (3), qui est montée de façon à pouvoir tourner autour de son axe (4) et sert à recevoir l'éprouvette (1), et une pièce de mesure (5) qui comporte un ensemble palier (6) sur laquelle la pièce de mesure (5) est montée de façon à pouvoir tourner autour de son axe (7). Sur cette pièce de mesure (5) est disposée une unité optique (8) destinée à recevoir au moins un faisceau (10, 10a, 10b, 10c, 10d) provenant de l'éprouvette, lequel interagit avec la structure de référence de l'éprouvette (1) et s'étend sensiblement dans un plan de mesure (11). L'ensemble palier (6) de la pièce de mesure est placé sur un seul côté du plan de mesure (11) ou dans ce plan de mesure (11). La partie de mesure (5) présente une forme de base dont la majeur partie est axialement symétrique par rapport à l'axe (7) de la partie de mesure et qui enferme ou entoure le point d'intersection de l'axe (7) de la pièce de mesure avec l'axe (4) de la pièce de retenue, sur le plan de mesure (11), et, donc, enferme ou entoure l'éprouvette (1).
Borden Ladner Gervais Llp
Leica Geosystems Ag
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1744427