G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 15/02 (2006.01) G01N 23/223 (2006.01)
Patent
CA 2393885
The invention refers to a device for measurement of the thickness of a first layer, comprising one or more sublayers, on a second layer of a metal sheet by X-ray fluorescence analysis comprising means for generating and directing a beam of polychromatic primary X-rays, said beam being able to penetrate into the first and second layers for converting primary X-rays into chemical element specific fluorescent X-rays by means of absorption of primary X-rays and re-emission of fluorescent X-rays by the chemical element, and further comprising means for detecting element specific fluorescent X-rays and determining an intensity thereof. The means for detection have been placed at an angle with respect to the primary beam of X-rays in dependence of the chemical element from which the fluorescent X-rays are to be detected. Herewith an improvement of the efficiency of detection is achieved, and the measurement time is reduced accordingly. Hence, a device is provided with which alloys with a low concentration of fluorescent elements can now be analysed, for determining the thickness of a cladding.
L'invention concerne un appareil de mesure de l'épaisseur d'une première couche, comportant une ou plusieurs sous-couches, sur une seconde couche d'une feuille métallique par analyse à fluorescence X, comprenant des moyens pour produire et diriger un faisceau de rayons X primaires polychromatiques. Ledit faisceau peut pénétrer dans la première et la seconde couche, afin de convertir les rayons X primaires, en rayons X fluorescents à élément chimique spécifique, par absorption de rayons X primaires, et ré-émission de rayons X fluorescents par l'élément chimique. L'appareil comporte également des moyens de détection des rayons X fluorescents à élément chimique spécifique, qui permettent aussi de déterminer une intensité de ces derniers. Les éléments utilisés pour la détection sont placés de manière à former un angle avec le faisceau primaire de rayons X, en dépendance de l'élément chimique, à partir duquel les rayons X fluorescents doivent être détectés. On obtient donc par là, une amélioration de l'efficacité de la détection et, en conséquence, une réduction du temps de mesure. Ainsi, le dispositif présenté par cette invention permet d'analyser des alliages, en utilisant une faible concentration d'éléments fluorescents, afin de déterminer l'épaisseur d'un surfaçage.
Ghaziary Hormoz
Haszler Alfred Johann Peter
Corus Aluminium Walzprodukte Gmbh
Ridout & Maybee Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1428270