G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 15/02 (2006.01)
Patent
CA 2142231
L'invention concerne un dispositif pour la mesure du profil d'épaisseur d'un produit métallique sous forme d'une bande ou d'une plaque en défilement, du type comportant une source de rayons X émettant en direction dudit produit, une unité (21) de détection des rayons X située de l'autre côté du produit par rapport à ladite source, des moyens (22) de traitement des signaux émis par l'unité de détection permettant de mesurer le profil d'épaisseur dudit produit, et des moyens (23, 24) de refroidissement de l'unité de détection et des moyens de traitement de ses signaux, caractérisé en ce que l'unité de détection et les moyens de traitement de ses signaux sont disposés sur une plaque support (18) munie d'une plaque de fermeture (19), la plaque de fermeture comportant des connexions électriques (27) et en fluides (25, 26) nécessaires au fonctionnement de l'unité de détection et des moyens de traitement de ses signaux, en ce que la plaque support est insérée dans un boîtier dont l'une des faces latérales présente un évidement, des moyens (20) pour la fixation de la plaque de fermeture et des moyens pour étanchéifier la liaison entre le boîtier et la plaque de fermeture, la face du boîtier située en regard du produit présentant, face à l'unité de détection, une fenêtre en un matériau perméable aux rayons X, et en ce que le boîtier est installé dans un bâti qui le maintient à proximité du produit.
Campas Jean-Jacques
Terreaux Stephane
Vanhee Patrick
Ogilvy Renault Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Sollac (societe Anonyme)
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1946588