G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 21/26 (2006.01) G02B 21/24 (2006.01)
Patent
CA 2408731
The invention concerns methods and devices for observing or analysing samples on a support. More particularly, it concerns a device for sequential observation of several samples arranged on a common plate (19) comprising an objective (15) for observing a stage (17) for positioning the plate (19) adapted to ensure a relative displacement between the plate (19) and the observation axis in a plane perpendicular to the observation axis, while leaving free the vertical displacement along the observation axis, means (21) for illuminating the sample and means (23, 25) for acquiring an image at the objective (15) output. It comprises a spacer (43) fixed relative to the objective (15) and having a support surface (45) on the support (19), said support surface being located proximate to the observation axis, so that said spacer (43) is adapted to maintain, on the observation axis, a constant distance between the objective (15) and the observation surface (29), during a relative displacement between the support (19) and the observation axis. The invention is useful for rapid analysis of cell samples.
La présente invention concerne des procédés et dispositifs pour l'observation ou l'analyse d'échantillons sur un support. Plus particulièrement, il s'agit d'un dispositif pour l'observation séquentielle de plusieurs échantillons disposés sur une même plaque (19) comportant un objectif (15) d'observation d'un échantillon suivant un axe d'observation depuis une face d'observation (29) de la plaque (19), une platine (17) de positionnement de la plaque (19) adaptée pour assurer un déplacement relatif entre la plaque (19) et l'axe d'observation dans un plan perpendiculaire à l'axe d'observation, tout en laissant libre le déplacement vertical le long de l'axe d'observation, des moyens (21) d'illumination de l'échantillon et des moyens (23, 25) d'acquisition d'une image en sortie de l'objectif (15). Il comporte une entretoise (43) fixe par rapport à l'objectif (15) et présentant une surface d'appui (45) sur le support (19), ladite surface d'appui étant située au voisinage de l'axe d'observation, de sorte que ladite entretoise (43) est adaptée pour maintenir, sur l'axe d'observation, une distance constante entre l'objectif (15) et la face d'observation (29), au cours d'un déplacement relatif entre le support (19) et l'axe d'observation. Application à l'analyse rapide d'échantillons cellulaires.
Delaage Michel
Delaage Pierre
Villa Pascal
Williamson Toni Louise
Robic
Trophos Sa
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1584243