G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 3/56 (2006.01) G01N 15/10 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
Patent
CA 2505149
The invention relates to a device for testing the scratch resistance of surfaces of a sample body by means of a gas flow mixed with solid particles. Said device comprises at least one exchangeable pipe (1) for guiding the gas flow to a sample holder (2) containing the surface to be tested. In order to produce the gas flow, a ventilator is provided at the entrance to the pipe or a suction device (3) is provided at the exit of the pipe, and a dosing device (7) is provided at the entrance to the pipe or downstream along the pipe for dosing the solid particles in the gas flow. The pipe is elbowed in the region of the exit of the pipe, the elbowed pipe part comprising an opening (6) at the elbow, at which the sample holder (2) is detachably connected to the pipe (1), or instead of the opening (6), a sample holder (2) is provided inside the elbowed pipe part at the elbow. The opening containing the sample holder or the sample holder located inside the pipe is positioned in such a way that the gas flow is oriented towards the sample holder.
L'invention concerne un dispositif permettant de tester la résistance aux éraflures des surfaces d'un échantillon à l'aide d'un flux gazeux mélangé à des particules solides. Ce dispositif comprend au moins un tuyau (1) qui peut être remplacé et permet de diriger le flux gazeux sur un porte-échantillon (2) avec la surface à tester. Pour générer le flux gazeux, un ventilateur est placé à l'entrée du tuyau ou un dispositif d'aspiration (3) est placé à la sortie du tuyau et un dispositif de dosage (7) destiné au dosage des particules solides est implanté à l'entrée du tuyau ou, en aval, dans le flux gazeux le long du tuyau. Le tuyau est coudé dans la zone de sortie du tuyau, la partie tuyau coudée présente dans l'angle un orifice (6) au niveau duquel le porte-échantillon (2) est relié de façon amovible au tuyau (1) ou bien, à la place de l'orifice (6), un porte-échantillon (2) est placé à l'intérieur de la partie tuyau coudée dans l'angle. L'orifice et le ou les porte-échantillon(s) sont situés à l'intérieur du tuyau de telle manière que le flux gazeux soit dirigé sur le porte-échantillon.
Burgel Andreas
Lamp Georg
Maleika Robert
Mleczko Leslaw
Bayer Materialscience Ag
Fetherstonhaugh & Co.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1410911