G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/63 (2006.01) G01N 21/71 (2006.01)
Patent
CA 2425621
The invention relates to a device for the chemical analysis of solid or molten material samples (8), based on laser-induced emission spectrometry. The device comprises a laser source (10) generating a laser beam (11), a deflection device deflecting the laser beam, a focusing device focusing the laser beam (11), and a device (14) that guides the reflections (26) of a plasma (25) ignited by the laser beam (11) on the material sample (8) to an evaluation device (28), such as a spectrometer. In order for the laser source (10) and the evaluation device (28) to be disposed far away from the material sample (8) and uninfluenced by the material sample (8), at least one arm (14) is provided between the laser source (10) and the material sample (8). Said arm is provided with at least one movable joint to guide the laser beam (11) and with a cavity for the laser beam (11) while the deflection device in the form of a mirror or prism is disposed at the pivot joint (12) of said arm. The laser source (10) and the evaluation unit (28) are disposed so as to be independent of any movement of the material sample (8).
La présente invention concerne un dispositif d'analyse chimique d'échantillons de matière solides ou fondus (8), se basant sur la spectroscopie d'émission induite par laser. Ce dispositif comprend une source laser (10), qui produit un rayonnement laser (11), un dispositif de déviation, qui dévie le rayonnement laser, un dispositif de focalisation, qui focalise le rayonnement laser (11), ainsi qu'un dispositif (14), qui dirige des rayons de réflexion (26) d'un plasma (25) activé par le rayonnement laser (11) sur l'échantillon de matière (8) en direction d'un dispositif d'évaluation (28), tel qu'un spectromètre. Afin de pouvoir installer la source laser (10) et le dispositif d'évaluation (28) loin de l'échantillon de matière (8), sans que ce dernier ne les influence, un bras (14) équipé d'au moins une articulation mobile (12) et présentant une cavité destinée au rayonnement laser (11) est pourvu entre la source laser (10) et l'échantillon de matière (8) et permet de diriger le rayonnement laser (11). Le dispositif de déviation, conçu sous forme de miroir ou de prisme, est pourvu à l'emplacement de l'articulation (12) du bras. La source laser (10) et l'unité d'évaluation (28) sont placées de manière indépendante du mouvement de l'échantillon de matière (8).
Bauerle Dieter
Gruber Johann
Heitz Johannes
Ramaseder Norbert
Norton Rose Or S.e.n.c.r.l. S.r.l./llp
Voest-Alpine Industrieanlagenbau Gmbh & Co
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1664494