H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/00 (2006.01)
Patent
CA 2670286
A dual ion trap mass analyzer includes adjacently positioned first and second two- dimensional ion traps respectively maintained at relatively high and low pressures. Functions favoring high pressure (cooling and fragmentation) may be performed in the first trap, and functions favoring low pressure (isolation and analytical scanning) may be performed in the second trap. Ions may be transferred between the first and second trap through a plate lens having a small aperture that presents a pumping restriction and allows different pressures to be maintained in the two traps. The differential-pressure environment of the dual ion trap mass analyzer facilitates the use of high-resolution analytical scan modes without sacrificing ion capture and fragmentation efficiencies.
Un analyseur de masse à piège d'ions double comporte des premier et second pièges à ions bidimensionnels positionnés à proximité l'un de l'autre et respectivement maintenus à des pressions respectivement haute et basse. Des fonctions favorisant une haute pression (refroidissement et fragmentation) peuvent être réalisées dans le premier piège ; des fonctions favorisant une basse pression (isolement et balayage analytique) peuvent être effectuées dans le second piège. Des ions peuvent être transférés entre le premier et le second piège par l'intermédiaire d'une lentille à plaque munis d'une petite ouverture qui présente une restriction au pompage et permet de maintenir différentes pressions dans les deux pièges. L'environnement de pression différentielle de l'analyseur de masse à piège d'ions double facilite l'utilisation de modes de balayage analytique haute résolution sans sacrifier la capture d'ions ni les rendements de fragmentation.
Quarmby Scott T.
Schwartz Jae C.
Syka John E. P.
Freedman & Associates
Thermo Finnigan Llc
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1699190