G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/20 (2006.01) G01N 23/207 (2006.01)
Patent
CA 2473782
Diffractometer and method for diffraction analysis making use of two Euler cradles, a primary and a secondary Euler cradle. The primary Euler cradle supports a source of a radiation beam, having a collimation axis, and a radiation beam detector, having a reception axis, said collimation and reception axis, conveying in a centre of the diffractometer which is fixed with respect to the primary Euler cradle. The source and detector are adapted to move along the primary Euler cradle. The secondary Euler cradle supports the primary Euler cradle and is arranged to rotate the latter.
L'invention concerne un diffractomètre et un procédé d'analyse de diffraction faisant intervenir deux berceaux d'Euler c.-à-d. un premier et un deuxième berceau d'Euler. Le premier berceau d'Euler supporte une source d'un faisceau de rayonnement présentant un axe de collimation, et un détecteur de faisceau de rayonnement présentant un axe de réception, lesdits axe de collimation et axe de réception convergeant vers le centre du diffractomètre, qui est fixé par rapport au premier berceau d'Euler. La source et le détecteur peuvent se déplacer le long du premier berceau d'Euler. Le deuxième berceau d'Euler supporte le premier berceau d'Euler et peut faire tourner ce dernier.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Xrd-Tools S.r.l.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1411407