C - Chemistry – Metallurgy – 12 – Q
Patent
C - Chemistry, Metallurgy
12
Q
C12Q 1/04 (2006.01) B01D 59/44 (2006.01) C12Q 1/24 (2006.01) G01N 23/00 (2006.01) G01N 30/72 (2006.01) G01N 33/483 (2006.01) H01J 49/04 (2006.01)
Patent
CA 2503840
A rapid and efficient method for novel biological substance screening by surface analysis has been developed using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS). This method relies on the surface screening of an array of micro-organisms grown on porous membranes, which had previously been in contact with a solid growth medium. ToF-SIMS analysis differentiates among organisms producing different substances, either directly as molecular product, or indirectly through the use of multivariate statistical data reduction techniques. This method has many advantages over traditional microbial screening methods, which require sample preparation and time for assay development.
L'invention concerne un procédé rapide et efficace de criblage de substances biologiques par analyse de surface au moyen de la spectrométrie de masse ionique secondaire à temps de vol (ToF-SIMS). Ledit procédé est fondé sur le criblage de surface d'un réseau de micro-organismes élevés sur des membranes poreuses ayant préalablement été au contact d'un milieu de croissance solide. L'analyse par spectrométrie de masse ionique secondaire à temps de vol permet de différencier des organismes produisant différentes substances, soit directement en tant que produit moléculaire, soit indirectement par l'utilisation de techniques de réduction de données statistiques multivariables. Le procédé selon l'invention se révèle très avantageux en plusieurs points par rapport à des procédés de criblage microbien habituels, nécessitant une préparation des échantillons et un temps de développement de dosage.
Lloyd Kathryn G.
O'keefe Daniel P.
Bennett Jones Llp
E. I. Du Pont de Nemours And Company
LandOfFree
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