G - Physics – 01 – S
Patent
G - Physics
01
S
G01S 13/32 (2006.01)
Patent
CA 2621122
There are provided a distance measuring device and a distance measuring method characterized by ~simple configuration~, ~capability of measuring a near distance~, and ~a small measurement error~ like a distance measuring device using a standing wave. The distance measuring device includes a signal source (1) for outputting a signal having a plurality of different frequency components within a particular bandwidth, a transmission unit (2) for transmitting a signal as an undulation, s mixed wave detection unit (3) for detecting a mixed wave VC obtained by mixing a progressive wave VT transmitted and a reflected wave VRk of the progressive wave VT reflected by a measurement object (6), a frequency component analysis unit (4) for analyzing the frequency component of the mixed wave VC detected, and a distance calculation unit (5) for obtaining a distance spectrum by subjecting the analyzed data further to spectrum analysis, thereby calculating the distance to the measurement object (6).
L~invention concerne un dispositif de mesure de distance et une méthode de mesure de distance caractérisés par une configuration simple, la possibilité de mesurer de faibles distances et une erreur de mesure faible comme un dispositif de mesure de distance utilisant une onde stationnaire. Le dispositif de mesure de distance comprend une source de signal (1) pour fournir un signal ayant une pluralité de composantes de fréquence différentes au sein d~une même bande passante, une unité d~émission (2) pour émettre un signal en tant qu~ondulation, une unité de détection d~onde mixte (3) pour détecter une onde mixte VC obtenue en mélangeant une onde progressive VT transmise et une onde réfléchie VRk de l~onde progressive VT réfléchie par un objet de mesure (6), une unité d~analyse des composantes de fréquence (4) pour analyser les composantes de fréquence de l~onde mixte VC détectée, et une unité de calcul de distance (5) pour obtenir un spectre de distance en soumettant encore les données analysées à une analyse de spectre, calculant ainsi la distance à l~objet de mesure (6).
Borden Ladner Gervais Llp
Saika Technological Institute Foundation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1714121