Echelle spectrometer with a shaped oriented slit

Details Echelle spectrometer with a shaped oriented slit Echelle spectrometer with a shaped oriented slit

G - Physics

01

J

G01J 3/00 (2006.01) G01J 3/04 (2006.01) G01J 3/18 (2006.01)

Patent

CA 2216786

An improved echelle spectrometer comprises a slit in light blocking plate, an echelle grating, and a detector array. The slit is shaped and oriented to align an image of a light beam projected through the slit, onto the echelle grating and onto the detector in a desired orientation and shape relative to the detector array. Precise adjustment of the shape and orientation of the slit is dependent on the orientation of the detector with respect to the dispersion direction of the echelle grating. The echelle spectrometer provides high detector resolution with reduced read-out time.

Un spectromètre à échelette.amélioré comprend une fente dans une plaque de blocage lumineux, un réseau à échelette et un réseau de détecteurs. Cette fente est façonnée et orientée pour que l'image projetée par un faisceau lumineux à travers la fente dans le réseau à échelette et dans le détecteur ait l'orientation et la forme voulues par rapport au réseau de détecteurs. Le réglage précis de la forme et de l'orientation de la fente dépend de l'orientation du détecteur par rapport à la direction de dispersion du réseau à échelette. Le spectromètre à échelette procure une haute résolution de détection et un temps de lecture écourté.

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