Eddy current testing method and eddy current testing apparatus

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 27/90 (2006.01)

Patent

CA 2743834

In an eddy current testing method which involves using a rotatable eddy current testing probe in which a detection coil is arranged within an exciting coil, a change in detection sensitivity (a deviation of detection sensitivity) which changes depending on the rotational position of the detection coil is reduced. The eddy current testing probe includes an exciting coil EC1, a detection coil DC1, an exciting coil EC2 and a detection coil DC2, which are mounted on a disk DS. The eddy current testing probe is placed so as to face a circumferential surface of an object to be inspected T, which is in the shape of a circular cylinder, and the disk DS is rotated. Then, the distance (liftoff) between the detection coils DC1 and DC2 and an inspection surface changes. Therefore, also the detection sensitivity to a flaw signal changes. To reduce the change in detection sensitivity, the detection sensitivity is adjusted by detecting the rotational position (rotational angle) of the detection coils DC1 and DC2.

L'invention concerne un procédé d'essais par courants de Foucault utilisant une sonde pivotante d'essais par courants de Foucault dans lequel une bobine de détection est disposée à l'intérieur d'une bobine d'excitation, caractérisé par une réduction de la variation de la sensibilité de détection (écart de sensibilité de détection) en fonction de la position angulaire de la bobine de détection. Une sonde d'essais par courants de Foucault selon l'invention est munie d'une bobine d'excitation (EC1), d'une bobine de détection (DC1), d'une bobine d'excitation (EC2) et d'une bobine de détection (DC2) montées sur un disque (DS). La sonde d'essais par courants de Foucault est placée au-dessus de la surface circonférentielle d'un objet cylindrique à tester (T). Comme la distance (dégagement) entre la bobine de détection (DC1, DC2) et la surface à tester varie lorsque l'on fait tourner le disque (DS), la sensibilité de détection d'un signal de défaut varie. La sensibilité de détection est ajustée en détectant la position angulaire (angle de rotation) de la bobine de détection (DC1, DC2) afin de réduire la variation de la sensibilité de détection.

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