G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 3/12 (2006.01)
Patent
CA 2560855
A method of determining the source radiation pattern of at least one source (2) of electromagnetic radiation is provided. The method comprises the steps of at at least one sensor (3), measuring the electric and magnetic fields due to the at least one source; formulating a surface integral over the measured data, the measured data weighted by a Green's function and its spatial derivatives; and evaluating the surface integral at at least one location to determine the source radiation pattern at that location due to the at least one source.
La présente invention concerne un procédés de détermination de diagramme de rayonnement de source d'au moins une source (2) de rayonnement électromagnétique. Ce procédé comprend au moins un capteur (3), qui mesure les champs électriques et magnétiques dus à cette ou à ces sources, qui calcule une intégrale de surface sur les données mesurées, ces données mesurées étant pondérées par une fonction de Green et par ses dérivées spatiale et, qui évalue l'intégrale de surface d'au moins une localisation de façon à déterminer le diagramme de rayonnement de source à cette localisation du à cette ou à ces sources.
Amundsen Lasse
Rosten Tage
Marks & Clerk
Statoil Asa
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2000200