Electronic component testing process

Details Electronic component testing process Electronic component testing process

Category

G - Physics

Subcategory

01

Subsubcategory

R

IPC codes

G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3183 (2006.01) G11C 29/50 (2006.01)

Type

Patent

Patent number

CA 2324055

Description

Procédé de test d'un composant électronique (1) dans lequel on envoie un signal (S1) à une cellule (3) du composant et on étudie le signal de sortie (S2) de ce composant, de manière à définir si le composant est acceptable ou non. Si le composant est acceptable, alors selon le procédé, on réalise à nouveau le test en envoyant un signal (S1') similaire au premier signal mais d'une durée inférieure (T2). On recherche alors un signal de sortie (S2') à comparer avec un motif attendu comprimé. Si ce test réalisé plus rapidement est valable, on peut éventuellement envisager d'utiliser ce signal d'entrée de test plus rapide sur des composants suivants à tester.

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