G - Physics – 03 – G
Patent
G - Physics
03
G
G03G 5/147 (2006.01) G03G 5/00 (2006.01) G03G 9/087 (2006.01)
Patent
CA 2755752
An electrophotographic photoconductor having a photosensitive layer and a crosslinked resin surface layer over a support, wherein shapes of concaves and convexes in a surface of the electrophotographic photoconductor are measured by a surface roughness/profile measuring device to obtain one-dimensional data arrays, the arrays are subjected to multiresolution analysis (MRA-1) through wavelet transformation to be separated into six frequency components including HHH, HHL, HMH, HML, HLH and HLL to obtain one-dimensional data arrays, the arrays of the HHL are thinned out to be reduced 1/10 to 1/100, thereby producing one-dimensional data arrays, which are then subjected to multiresolution analysis (MRA-2) through wavelet transformation to be separated into six frequency components including LHH, LHL, LMH, LML, LLH and LLL to thereby obtain 12 frequency components in total; and a center-line average roughness (WRa) of the 12 frequency components satisfies relationship (i) below. 1 - 597 X WRa (HML) + 238 X WRa (HLH) - 95 X WR a (LHL) + 84 X WRa (LMH) - 79 X WRa(LML) + 55 X WRa(LLH) - 17 X WRa(LLL) > O---(i)
La présente invention concerne un photoconducteur électrophotographique comportant une couche photosensible et une couche de surface de résine réticulée sur un support. Des formes concaves et convexes dans une surface du photoconducteur électrophotographique sont mesurées par un dispositif de mesure de la rugosité de surface/du profil afin d'obtenir des réseaux de données unidimensionnels, les réseaux sont soumis à une analyse multirésolution (MRA-1) par le biais d'une transformation en ondelettes pour être séparés en six composantes fréquentielles comprenant HHH, HHL, HMH, HML, HLH et HLL afin d'obtenir des réseaux de données unidimensionnels, les réseaux de HHL sont amincis pour être réduits de 1/10 à 1/100, ce qui produit des réseaux de données unidimensionnels, qui sont ensuite soumis à une analyse multirésolution (MRA-2) par le biais d'une transformation en ondelettes pour être séparés en six composantes fréquentielles comprenant LHH, LHL, LMH, LML, LLH et LLL afin d'obtenir ainsi au total 12 composantes fréquentielles ; et une rugosité moyenne centrale (WRa) des 12 composantes fréquentielles satisfait à la relation (i) suivante. 1 - 597 X WRa (HML) + 238 X WRa (HLH) - 95 X WR a (LHL) + 84 X WRa (LMH) - 79 X WRa(LML) + 55 X WRa(LLH) - 17 X WRa(LLL) > O - - - (i)
Egawa Kazuhiro
Fujiwara Yukio
Kami Hidetoshi
Yamazaki Junichi
Ricoh Company Ltd.
Smart & Biggar
LandOfFree
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