Envelope detector including sample-and-hold circuit...

H - Electricity – 03 – D

Patent

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Details

H03D 1/02 (2006.01) H03D 1/22 (2006.01)

Patent

CA 2258020

An amplitude modulated (AM) signal is applied through a sample and hold circuit including a switch (315) and a capacitor (C3) to a series circuit of an amplifier (340), a low pass filter (350) and a group delay equalizer (360) to produce a detected envelope output. The AM signal is also applied through a phase locked loop (325) and a low pass filter (327) to a comparator (330) in series with a differentiator (335) to produce sample pulses applied to the switch (315). A time constant of the low pass filter (327) is chosen so that the comparator produces pulse edges near the wave peaks of the AM signal. The differentiator (335) contains a delay element (336) which delays each sample pulse to cause the switch (315) to sample the AM signal at or near a wave peak which is subsequent to an earlier wave peak which produced the sample pulse.

Signal modulé en amplitude (AM) qui est appliqué par l'intermédiaire d'un échantillonneur bloqueur comportant un commutateur (315) et un condensateur (C3) à un circuit série d'un amplificateur (340), un filtre passe-bas (350) et un égalisateur de retard de groupe (360) pour produire une sortie d'enveloppe détectée. Le signal AM est également appliqué par l'intermédiaire d'une boucle à phase asservie (325) et d'un filtre passe-bas (327) à un comparateur (330) monté en série avec un différentiateur (335) pour produire des impulsions d'échantillonnage appliquées au commutateur (315). Une constante de temps du filtre passe-bas (327) est choisie de manière à ce que le comparateur produise des flancs d'impulsions à proximité des crêtes d'onde du signal AM. Le différentiateur (335) contient un circuit de retard (336) qui retarde chaque impulsion d'échantillonnage de manière à entraîner le commutateur (315) à échantillonner le signal AM au niveau ou à proximité d'une crête d'onde ultérieure à une crête d'onde précédente qui a produit l'impulsion d'échantillonnage.

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