Evaluation of signal-processor performance

H - Electricity – 04 – B

Patent

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H04B 17/00 (2006.01) G06F 11/32 (2006.01) H04L 1/24 (2006.01) G06F 11/34 (2006.01)

Patent

CA 2183429

A method of evaluating the performance of signal-processing device during a test period when an input signal is applied to the device and an output signal is generated by it, the method being characterised by the step of deriving a profile of input (or output) signal quality variation for intervals corresponding to times when the output (or input) signal quality lies within a predetermined range or reaches a predetermined threshold. Preferably, the derived profile is normalised with respect to the profile of the quality of the input (or output) signal for the whole period of the test. It is also preferable to assess the performance of the device relative to the performance of a reference or standard device by generating normalised profiles for each and comparing said profiles in a graphical manner. The method can be implemented in hardware or in software or in a combination of each. In one circuit for an analyser (11) the input signal is led through a clocked gate and filter (14) to generate a series of samples. The quality of each sample in terms of IBAD is measured (18) and fed to two accumulators (24 and 26) one of which (26) is gated (28) by the output of a discriminator (34) so that input to the associated accumulator (26) is blocked unless the quality of the output signal (in terms of BER) reaches a predetermined threshold (set by the discriminator). The accumulated select sample profiles from its accumulator (28) is normalised by division with the overall sample profiles from its accumulator (24) by a divider (30) to generate a profile for display (32) that is indicative of the performance of the test device.

L'invention concerne un procédé d'analyse des performances d'un dispositif de traitement de signaux pendant une durée d'essai, lorsqu'un signal d'entrée est appliqué au dispositif et un signal de sortie est généré par celui-ci, le procédé étant caractérisé par l'étape consistant à dériver un profil de variation de la qualité d'un signal d'entrée (ou de sortie) pendant des intervalles correspondants à des temps pendant lesquels la qualité du signal de sortie (ou d'entrée) se situe à l'intérieur d'une plage prédéterminée ou atteint un seuil prédéterminé. Le profil dérivé est de préférence normalisé par rapport au profil de la qualité du signal d'entrée (ou de sortie) pendant la totalité de la durée de l'essai. Il est également préférable d'évaluer les performances du dispositif par rapport aux performances d'un dispositif de référence ou normalisé par production de profils normalisés pour chacun desdits profils et comparaison de ceux-ci d'une manière graphique. On peut mettre en oeuvre le procédé dans un matériel ou dans un logiciel ou bien dans les deux combinés. Dans un circuit destiné à un analyseur (11), le signal d'entrée est conduit dans un filtre (14) et une porte synchronisée afin de générer une série d'échantillons. La qualité de chaque échantillon en terme de distortion d'amplitude intrabande est mesurée (18) et transmise à deux accumulateurs (24 et 26), dont un (26) est déclenché (28) par la sortie d'un discriminateur (34), de manière que l'entrée dans l'accumulateur associé (26) est bloquée à moins que la qualité du signal de sortie (en terme de taux d'erreurs sur les bits) n'atteigne un seuil prédéterminé (établi par le discriminateur). Les profils accumulés des échantillons sélectionnés provenant de l'accumulateur (28) sont normalisés par division à l'aide du profil d'échantillon global provenant de l'accumulateur (24), au moyen d'un diviseur (30), afin de générer un profil destiné à un affichage (32) indiquant les performances du dispositif d'essai.

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