G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3163 (2006.01) G01R 31/3167 (2006.01) G01R 31/3183 (2006.01) G06F 11/25 (2006.01) G01R 31/316 (2006.01)
Patent
CA 2206738
A improved fault model for analog and mixed signal circuits is presented. The fault modelling is based on the estimation of perturbation due to physical failure and structural fault. The proposed fault model is based on the estimation of statistical distributions of faulty and fault-free circuits responses. The proposed functional fault modelling is technology independent. Also, the LIMFault simulation which uses the sensitivity for perturbation estimation for fault activation and propagation is presented. The first order estimation is used in order to speed-up the fault simulation and allow to estimate the response and variation of faulty and fault-free circuits without using circuit simulator. The perturbation fault model can be used with other techniques that compute the distribution. The experimental results for analog and mixed signal circuits show the effectiveness of the proposed fault simulation in reducing the fault simulation time and reducing the total number of faults without affecting the fault coverage.
Modèle de défaillance amélioré pour circuits analogiques et mixtes. La modélisation de défaillance se fonde sur l'estimation des perturbations dues à des défaillances physiques ou structurales. Le modèle de défaillance se fonde sur l'estimation des répartitions statistiques des réponses des circuits défectueux et non défectueux. La modélisation fonctionnelle de défaillance proposée est indépendante de la technologie. En outre, la simulation de défaillance LIM (LIMFault), utilisant la sensibilité pour l'estimation des perturbations et pour l'activation et la propagation des défaillances, est présentée. L'estimation de premier ordre est utilisée pour accélérer la simulation de premier ordre et permettre d'estimer la réponse et la variation des circuits défectueux et non défectueux sans utiliser de simulateur de circuit. Le modèle de défaillance basé sur l'estimation des perturbations peut être utilisé avec d'autres techniques de calcul de répartition. Les résultats expérimentaux pour les circuits analogiques et mixtes montrent que la simulation de défaillance proposée est efficace pour réduire à la fois le temps de simulation de défaillance et le nombre total de défaillances sans influer sur la couverture des défaillances.
Hamida Naim Ben
Kaminska Bozena
Saab Khaled
Goudreau Gage Dubuc
Hamida Naim Ben
Kaminska Bozena
Saab Khaled
LandOfFree
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