G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 15/10 (2006.01) G01N 15/14 (2006.01)
Patent
CA 2526917
Most automatic particle classification methods produce errors. The invention provides a method for improving the accuracy of particle classification while shortening the amount of manual review time required from the operator. The method uses class weights, which are statistically-derived correction factors that accounts for frequency of classification errors. A first class weight and a second class weight are assigned to the first class and the second class, respectively. The number of particles in each of the first and the second classes is multiplied by the first class weight and the second class weight, respectively, to generate a corrected number of particles in each of the classes. If particles are reclassified, the class weights are recalculated in response to the reclassification. The method is usable with a complete classification where all the particles in a sample are classified, or a selective classification of a subset of the particles in the sample.
La plupart des procédés automatiques de classification de particules génèrent des erreurs. L'invention concerne un procédé destiné à améliorer la précision de la classification des particules tout en réduisant la quantité de contrôles manuels nécessaires par l'opérateur. On utilise dans ce procédé des poids de classe qui sont des facteurs de correction dérivés par statistique en fonction des erreurs de classification. Un premier poids de classe et un second poids de classe sont respectivement attribués à la première classe et à la seconde classe. Le nombre de particules dans chacune desdites classes est respectivement multiplié par le premier poids de classe et le second poids de classe afin de générer un nombre corrigé de particules dans chacune des classes. Si les particules sont reclassifiées, les poids de classe sont recalculés en réponse à la reclassification. Ce procédé peut être utilisé avec une classification complète dans laquelle toutes les particules d'un échantillon sont classifiées, ou une classification sélective d'un sous-ensemble de particules de l'échantillon.
Chapoulaud Eric
Kasdan Harvey L.
International Remote Imaging Systems Inc.
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1487254