H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/04 (2006.01) H01J 49/16 (2006.01)
Patent
CA 2515433
This application relates to a process for controllably placing two or more microspots on a target substrate in close proximity to one another. The microspots may then be simultaneously irradiated and the resulting ions detected by mass spectrometry, such as time of flight mass spectrometry. In one embodiment the size and spacing of the microspots on the substrate may be controlled by using an electrodynamic balance during the deposition step. The deposition procedure ensures that at least some of the microspots are spaced- apart on the substrate a distance less than the focused output of a single laser. Simultaneous irradiation of the adjacent microspots may cause desorption plumes of the microspots to interact in a gas phase, such as by ion- molecule reactions. The microspots may be configured to improve the ionization yield of the sample material in the gas phase and/or to increase the frequency of ion-molecule collisions in the gas phase. This allows for desorption of particular classes of compounds to be optimized independently of ionization. Different microspots could include different amounts or types of matrix compounds to enable simultaneously detection of compounds of varied physical and chemical properties within the same sample. One or more of the microspots may include calibrants or other additives for improving detecting accuracy or quantitation. Organized array of closely packed microspots may be created for use as standard reference materials or analyte detectors.
L'invention concerne un procédé permettant de disposer de manière contrôlée deux microtaches ou plus sur un substrat cible à proximité les unes des autres. Les microtaches peuvent ensuite être irradiées simultanément, et les ions qui en résultent détectés par sepctrométrie de masse, notamment par spectrométrie de masse de temps de vol. Dans un mode de réalisation, la taille et l'espacement des microtaches sur le substrat peuvent être réglés par l'intermédiaire d'un équilibre thermodynamique pendant l'opération de dépôt. L'opération de dépôt garantit qu'au moins certaines des microtaches sur le substrat sont espacées d'une distance inférieure à la sortie focalisée d'un laser unique. L'irradiation simultanée de microtaches adjacentes peut provoquer des panaches de désorption en phase gazeuse, tels que des réactions ion-molécule. Les microtaches peuvent être configurées pour améliorer le rendement de ionisation du matériau d'échantillon en phase gazeuse et/ou pour augmenter la fréquence des collisions entre ions et molécules en phase gazeuse. Ainsi, la désorption de catégories particulières de composés peut être optimisée indépendamment de l'ionisation. Des microtaches différentes peuvent inclure des quantités différentes de composés matriciels, ce qui permet de détecter simultanément des composés dotés de propriétés physiques et diverses au sein du même échantillon. Une ou plusieurs microtaches peuvent inclure des calibrateurs ou autres additifs destinés à améliorer la précision de détection ou la quantification. On peut créer un ensemble cohérent des microtaches très rapprochées servant de matériaux de référence types ou de détecteurs de mélanges à analyser.
Agnes George R.
Bogan Michael J.
Oyen Wiggs Green & Mutala Llp
Simon Fraser University
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1422905