G - Physics
01
T
G01T 1/29 (2006.01) G01N 23/203 (2006.01)
Patent
CA 2392346
The specification describes an instru-ment and a method for determining information about an object (J), only one side of which is available for examination. The method involves exposing the ob-ject to gamma-rays and measuring the position and/or time of arrival of gamma-rays at a detector (D). The instrument includes a source of gamma-rays (S) lo-cated so that at least some gamma-rays impact upon the object, and a detector surrounded by a shield (C) having an aperture (A) for facing at the object to be studied. The detector is capable of measuring the po-sition and/or time of arrival at the detector of gamma- rays passing through the aperture.
L'invention concerne un instrument et un procédé permettant de déterminer des informations relatives à un objet (J), dont un seul côté est disponible pour un examen. Ce procédé consiste à exposer ledit objet à des rayons gamma, et à mesurer la position et/ou le moment d'arrivée desdits rayons gamma au niveau d'un détecteur (D). L'instrument comprend une source de rayons gamma (S) située de sorte qu'au moins quelques rayons aient un impact sur l'objet, et un détecteur entouré d'une protection (C) possédant une ouverture (A) opposée à l'objet à étudier. Ledit détecteur peut mesurer la position et/ou le moment d'arrivée, au niveau du détecteur, des rayons gamma qui traversent l'ouverture.
Bereskin & Parr Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1729244