G - Physics
01
N
G01N 21/57 (2006.01) G01N 21/55 (2006.01)
Patent
CA 2351461
A comparison of the specular and diffused radiation reflected from a coating can be used in ratio to locate the gel point of the coating, and to monitor coating drying characteristics. This same system may be used to monitor the drying process of the coatings in a lab setting to characterize the drying process, optimize coating quality or optimize mill efficiency. A system implementing the Applicant's method uses a radiation source to illuminate a measurement location on the coating, and then provides a first and second radiation detectors to detect reflected radiation from the coating, originating from the radiation source. One of the radiation detectors is arranged to collect specular radiation. The second detector is arranged to collect only diffused radiation. The ratio of these two values represents information about the location of the gel point for the coating, and coating drying characteristics.
L'invention concerne un procédé consistant à utiliser la comparaison en proportions du rayonnement spéculaire et du rayonnement diffusé réfléchis sur un revêtement pour déterminer le point de gélification du revêtement et surveiller les caractéristiques de séchage du revêtement. Ce même système peut être appliqué pour surveiller le processus de séchage des revêtement en laboratoire afin de définir les caractéristiques du processus de séchage, d'améliorer la qualité du revêtement ou l'efficacité de la production. Un système mettant en oeuvre ce procédé comprend une source de rayonnement qui illumine le point du revêtement où la mesure est relevée, puis un premier et un second détecteurs de rayonnement détectent le rayonnement réfléchi par le revêtement à partir de la source de rayonnement. L'un de ces détecteurs de rayonnement est disposé de manière à capter le rayonnement spéculaire. Le second détecteur est disposé de manière à capter uniquement le rayonnement diffusé. Le rapport de ces deux valeurs donne une information relative au point de gélification et aux caractéristiques de séchage du revêtement.
Belotserkovsky Edward
Dahlquist John A.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Honeywell International Inc.
Honeywell-Measurex Corporation
LandOfFree
Gel point sensor does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Gel point sensor, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Gel point sensor will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1976691