G - Physics – 05 – B
Patent
G - Physics
05
B
G05B 19/4093 (2006.01)
Patent
CA 2598201
A method of determining a tool geometry and tool orientation for any prescribed path along a workpiece of a cutting tool is described. A parameter set is provided, where parameters of the parameter set include tool geometry and tool orientation relative to a surface of the workpiece. Values of the parameters in the parameter set are determined such that no local interference or global interference occurs, where local interference occurs when a portion of the tool immediately adjacent a cutting edge of the tool contacts a sidewall of a groove already cut by the cutting edge, and global interference occurs when a portion of the tool away from the cutting edge contacts a sidewall of a groove already cut by the cutting edge.
L'invention concerne un procédé permettant de détecter la géométrie et l'orientation d'un outil pour une trajectoire prescrite quelconque d'un outil de coupe sur une pièce. Ce procédé consiste à fournir un ensemble de paramètres, comprenant notamment des paramètres de géométrie et d'orientation de l'outil relativement à la surface de la pièce. Les valeurs des paramètres composant l'ensemble sont définis de telle manière qu'aucune interférence locale ou interférence globale ne se produise, une interférence locale se produisant lorsqu'une partie de l'outil immédiatement adjacente à l'arête de coupe de l'outil entre en contact avec la paroi latérale d'une entaille déjà formée par l'arête de coupe, et une interférence globale se produisant lorsqu'une partie de l'outil éloignée de l'arête de coupe entre en contact avec une paroi latérale d'une entaille déjà formée par l'arête de coupe.
Kumar Vinod Padmanabhan
Liang Erwin Wenti
Company General Electric
Craig Wilson And Company
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1885683