G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/28 (2006.01) G01R 27/32 (2006.01)
Patent
CA 2364189
A method of measuring the response of an electronic device to a high frequency input signal is performed with an analyzer (1). The method comprises the steps of: providing an electronic device (for example a transistor or amplifier) to be tested, providing a measurement system (10, 11a, 11b, 12, SA, SB) including a microwave transition analyzer (MTA) (10) connected to the device, applying a signal to the device and measuring with the MTA (10) the resulting incident and reflected waves at a port (3, 4) of the device, ascertaining first calibration data regarding the measurement system (10, 11a, 11b, 12, SA, SB), processing signals representative of the waves as measured by the MTA (10), with the use of the first calibration data, to compensate for the influence of the measurement system and the connection between the MTA (10) and the device on the waves between the port (3, 4) of the device and the MTA to produce vector corrected s-parameters, ascertaining, by measuring signals at a port of the device with a real network with known properties, second calibration data concerning voltage waveforms at the port, and processing said vectors corrected s-parameters with the use of the second calibration data to produce output signals from with the absolute values of the magnitude and phase of waves at the port of the device may be directly ascertained. The method is of use in improving the efficiency and power capabilities of amplifiers for use in mobile communication base stations.
Une méthode de mesure de la réponse d'un dispositif électronique à un signal d'entrée à haute fréquence est réalisée avec un analyseur (1). La méthode comprend les étapes suivantes : fournir un dispositif électronique (p. ex. un transistor ou un amplificateur) à tester, fournir un système de mesure (10, 11a, 11b, 12, SA, SB), y compris un analyseur de transition d'hyperfréquences (MTA) (10) connecté à l'appareil, en appliquant un signal à l'appareil et en mesurant avec le MTA (10) les ondes incidentes et réfléchies résultantes sur un port (3, 4) de l'appareil, vérifier les premières données d'étalonnage du système de mesure (10, 11a, 11b, 12, SA, SB), traiter les signaux représentatifs des ondes mesurées par le MTA (10), avec l'utilisation des premières données d'étalonnage pour compenser l'influence du système de mesure et de la connexion entre le MTA (10) et le dispositif sur les ondes entre le port (3, 4) de l'appareil et le MTA pour produire des paramètres de dispersion vectoriels corrigés, évaluer, par la mesure de signaux sur un port de l'appareil avec un réseau véritable aux propriétés connues, les deuxième données d'étalonnage au sujet des formes d'ondes de tension sur le port, et traiter lesdits paramètres de dispersion vectoriels corrigés en utilisant les deuxième données d'étalonnage pour produire des signaux de sortie à partir desquelles les valeurs absolues de l'amplitude et de la phase des ondes sur le port de l'appareil peuvent être directement vérifiées. La méthode est utilisée pour améliorer l'efficacité et la puissance des amplificateurs en vue de leur utilisation dans les stations de base des communications mobiles.
Benedikt Johannes
Tasker Paul Juan
Mesuro Limited
Sim & Mcburney
University College Cardiff Consultants Ltd.
LandOfFree
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