G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 33/483 (2006.01) G01N 22/04 (2006.01) G01N 27/22 (2006.01)
Patent
CA 2562640
A device is provided for the measurement of the moisture content of a substrate. The device utilizes a high-Q LC circuit having a resonant frequency. The LC circuit utilizes a high-Q inductor and a capacitor. The device also utilizes a high frequency signal generator, operable to couple power to the capacitor, electrically coupled to the LC circuit and a fiber matrix modification unit. The resonant frequency of the LC circuit is changeable in response to the moisture content of the substrate placed within the fiber matrix modification unit and proximate to the capacitor.
L'invention concerne un procédé destiné à mesurer la teneur en humidité d'un substrat. Le dispositif utilise un circuit LC à facteur de qualité élevé possédant une fréquence de résonance. Le circuit LC utilise un inducteur à facteur de qualité élevé et un condensateur. Le dispositif utilise également un générateur de signaux haute fréquence, qui fonctionne de manière à coupler l'alimentation au condensateur et qui est couplé électriquement au circuit LC ainsi qu'une unité de modification à matrice de fibres. La fréquence de résonance du circuit LC est modifiable en réponse à la teneur en humidité du substrat placé dans l'unité de modification à matrice de fibres à proximité du condensateur.
Gartstein Vladimir
Kerr Kendal William
Mccurdy Jim Allen
Sherman Faiz Feisal
Mbm Intellectual Property Law Llp
The Procter & Gamble Company
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1948575