High resolution and sensitivity imaging spectrograph

G - Physics – 01 – J

Patent

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Details

G01J 3/02 (2006.01)

Patent

CA 2197052

A high-resolution, high-throughput imaging echelle spectrograph having a long slit yields high spectral resolution and large spectral coverage simultaneously. The user is able to make quick adjustments of the desired field of view. The overlapping of different spectral orders are separated using a mosaic of interference filters which transmit approximately 50 .ANG. around the selected spectral lines. The spectra recorded by the invention, therefore, are not like any other, where wavelength increases or decreases monotonically along a given direction on an imaging detector. Instead, only selected windows about user selectable spectral regions are recorded simultaneously on the detector.

L'invention est un spectrographe à imagerie à échelette ayant une longue fente qui permet d'obtenir simultanément une grande résolution et une large couverture spectrale. L'utilisateur peut effectuer des réglages rapides du champs de visée. Les spectres en chevauchement peuvent être séparés au moyen d'une mosaïque de filtres interférentiels qui transmettent un spectre d'une largeur de 50 Ao approximativement de part et d'autre des raies spectrales sélectionnées. Les spectres enregistrés par l'appareil de l'invention sont donc différents des spectres courants où la longueur d'onde a une croissance ou une décroissance monotone dans une direction donnée d'un détecteur à imagerie. Dans l'appareil de l'invention, seules des fenêtres sélectionnées entourant les régions spectrales choisies par l'utilisateur sont enregistrées simultanément par le détecteur.

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Profile ID: LFCA-PAI-O-1615252

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