G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/3163 (2006.01) G01R 13/00 (2006.01)
Patent
CA 2657154
A high-speed signal testing system that includes a digital circuitry for providing a pattern tester with oscilloscope functionality at minimal implementation cost. The digital circuitry includes a time -base generator that provides a high-speed repeating time-base signal. The time-base signal, in conjunction with a sub-sampler and an accumulation memory, allows the system to zoom in on, and analyze portions of, one or more bits of interest in a repeating pattern present on the signal under test. Such portions of interest include rising and falling edges and constant high and low bit values.
Le système de test de signaux à grande vitesse de la présente invention inclut un ensemble de circuits numérique permettant de fournir un essayeur de motif doté d'une fonctionnalité d'oscilloscope à un coût d'implémentation minimal. L'ensemble de circuits numérique inclut un générateur de base de temps qui fournit un signal de base de temps de répétition à grande vitesse. Le signal de base de temps, en association avec un échantillonneur secondaire et une mémoire d'accumulation, permet au système de zoomer sur et d'analyser des parties d'un ou de plusieurs bits d'intérêts suivant un motif de répétition présent sur le signal en cours de test. De telles parties d'intérêt incluent des fronts de montée et de descente et des valeurs de bit élevées et faibles constantes.
Dft Microsystems Inc.
Stikeman Elliott Llp
LandOfFree
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