Improved imaging process for imaging materials

G - Physics – 03 – C

Patent

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Details

G03C 1/498 (2006.01) H04N 1/23 (2006.01) H04N 1/40 (2006.01) H04N 1/405 (2006.01)

Patent

CA 2189982

A process for exposing a silver halide- containing photothermographic element with radiation to produce a latent image compris- ing a) providing a source of radiation which emits a beam of radiation to produce a spot having at least one dimension of height or length of less than 600 micrometers at a tar- get site; b) providing at said target site a pho- tothermographic silver halide element sensitive to radiation emitted by said radiation source; c) emitting radiation a first time in an imagewise distribution from said radiation source so that said radiation strikes said element as spots hav- ing at least one dimension of length or width which is less than 250 micrometers; and d) then emitting radiation a second time in an imagewise distributed manner so that at least some spots from radiation emitted said second time overlap spots where said first emitted radi- ation struck said photothermographic element.

Procédé utilisé pour exposer un élément photothermographique contenant de l'halogénure d'argent à un rayonnement pour produire une image latente. Ce procédé consiste a) à utiliser une source de rayonnement émettant un faisceau de rayonnement pour produire un point dont au moins une dimension en hauteur ou en longueur est inférieure à 600 micromètres à l'endroit cible; b) à placer à cet endroit cible un élément photothermographique à l'halogénure d'argent sensible au rayonnement émis par ladite source de rayonnement; c) à émettre un rayonnement à partir de ladite source une première fois selon une distribution d'image de sorte que ledit rayonnement soit incident sur l'élément sous forme de points dont au moins une dimension en longueur ou en largeur est inférieure à 250 micromètres; et d) à émettre ensuite un rayonnement pour la deuxième fois selon une distribution d'image de manière à ce qu'au moins un certain nombre de points issus de ce rayonnement, émis une deuxième fois, recouvrent des points où le premier rayonnement émis était incident sur ledit élément photothermographique.

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