G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 21/26 (2006.01) G01N 15/14 (2006.01)
Patent
CA 2183081
In a microscopic screening apparatus a calibration slide (28) is mounted on a stage (18) of a microscope (36), and a microscope positioning system is calibrated by reading and storing (1008) in memory the location of at least one fiducial marking that is on the calibration slide (28) using a microscope-dependent coordinate system. Next, a sample containing slide is mounted against the stage (18) of the microscope (36). The location of at least one feature on the sample containing slide is then transformed (2006) into a microscope- independent coordinate system, and is stored (2008) in a memory. Using a second microscope (36), a second calibration slide (28) is mounted against the stage (18) of the second microscope (36), and the second (36) microscope is calibrated using (36) a second microscope-dependent coordinate system, based on the second microscope (36). Next, the sample containing slide is mounted against the second stage (18). The stored feature location is read (3004) from the memory, and transformed (3006) from the microscope-independent coordinate system to the second microscope-dependent coordinate system. The transformed feature location in the second microscope-dependent coordinate system is utilized to relocate (3008) the feature on the sample containing slide.
Dans un appareil de criblage microscopique, une lame d'étalonnage (28) est montée sur une platine (18) de miscroscope (36), et un système de positionnement de microscope est étalonné par lecture et mise (1008) en mémoire de la position d'au moins une marque de repérage située sur la lame d'étalonnage (28), à l'aide d'un système de coordonnées dépendant du microscope. Une lame contenant un échantillon est ensuite montée sur la platine (18) du microscope (36). La position d'une caractéristique au moins de la lame contenant l'échantillon est alors transformée (2006) en un système de coordonnées indépendant du microscope et mise (2008) en mémoire. Une deuxième lame d'étalonnage est montée sur la platine d'un deuxième microscope (36), lequel est étalonné à l'aide d'un système de coordonnées dépendant du deuxième microscope. La lame contenant l'échantillon est alors montée sur la deuxième platine (18). La position de la caractéristique est lue (3004) dans la mémoire et transformée (3006) du système de coordonnées indépendant du microscope en système de coordonnées dépendant du deuxième microscope. Cette position de caractéristique transformée en système de coordonnées dépendant du deuxième microscope sert à repositionner (3008) la caractéristique de la lame contenant l'échantillon.
Hakes Donald L.
Holloway Jason S.
Kelly Robert L.
Dimock Stratton Llp
Science Applications International Corporation
LandOfFree
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