Improved method for determining subscriber loop make-up

H - Electricity – 04 – M

Patent

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H04M 3/26 (2006.01) H04B 3/46 (2006.01) H04B 3/54 (2006.01) H04L 1/24 (2006.01) H04L 25/02 (2006.01) H04M 3/30 (2006.01) H04M 3/00 (2006.01)

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CA 2378839

A method and circuitry for comparing simulations of a subscriber loop to acquired waveforms. The method consists of analyzing the echo responses generated by the transmittal of pulses onto the subscriber loop. A slowly decaying signal caused by the inductive effect is removed from the echo signal. A simulated waveform is compared to the actual echo signal. By the method a discontinuity is identified in the frequency domain, the time domain signal representing each discontinuity is then obtained via an inverse fast Fourier transform and subtracted from the acquired data. The remaining data is then processed similarly as the method moves from the first discontinuity located nearest to a detector to the last discontinuity located farthest from the detector. The circuitry consists of an arrangement for calculating the difference between the responses on two branches of the loop. By use of this differential probing circuitry the echo response is captured and used in determining gauge and discontinuities.

L'invention a pour objet un procédé et un ensemble de circuits destinés à comparer des simulations (1718) d'une ligne d'abonné (1776) avec des formes d'onde acquises (1731). Le procédé consiste à analyser les réponses écho (1764) générées par la transmission d'impulsions dans la ligne d'abonné. Un signal décroissant lentement sous l'effet induit est retiré (1713) du signal écho. Une forme d'onde simulée (1717) est comparée au signal écho réel. Selon le procédé, une discontinuité est identifiée dans le domaine fréquentiel (1731), le signal dans le domaine temporel représentant chaque discontinuité est ensuite obtenu via une transformée rapide de Fourier inverse et soustrait (1750) des données acquises. Les données restantes sont ensuite traitées de la même façon (1750) étant donné que le procédé se déplace de la première discontinuité (1714) la plus proche d'un détecteur vers la dernière discontinuité la plus éloignée du détecteur. L'ensemble des circuits consiste en un arrangement permettant de calculer la différence entre les réponses sur les deux branchements de la ligne. Grâce à l'utilisation de cet ensemble de circuits de tests différentiels, la réponse écho est captée et utilisée pour établir l'étalonnage et les discontinuités.

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