Improvements in ms/ms scan methods for a quadrupole/time of...

H - Electricity – 01 – J

Patent

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H01J 49/34 (2006.01) H01J 49/40 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2349416

There is provided a method of effecting mass analysis on an ion stream, the method comprising passing the ion stream through a first mass resolving spectrometer, to select parent ions having a first desired mass-to--charge ratio. The parent ions are then subject to collision-induced dissociation (CID) to generate product ions, and the product ions and any remaining parent ions are trapped; the CID and trapping can be carried out together in a linear ion trap. Periodically pulses of the trapped ions are released into a time of flight (TOF) instrument to determine the mass-to-charge ratio of the ions. The delay between the release of the pulses and the initiation of the push- pull pulses of the TOF instrument are adjusted to maximize the duty cycle efficiency and hence the sensitivity for a selected ions with a desired mass-to-charge ratio. This technique can be used to optimize the performance for a parent ion scan, and MRM scan or a neutral loss scan.

Une méthode est présentée pour l'analyse d'un flux d'ions, ladite méthode comprenant le passage du flux d'ions dans un spectromètre de résolution de masse en vue de sélectionner les ions parents ayant un premier rapport masse-charge souhaité. Les ions parents sont ensuite soumis à une dissociation provoquée par collision afin de générer des ions produits, ces derniers et tout ion parent restant étant alors piégés, la dissociation provoquée par collision et la prise au piège pouvant être effectuées simultanément dans un piège ionique linéique. Des impulsions provenant des ions piégés sont relâchées périodiquement dans un instrument de temps de vol pour déterminer le rapport masse-charge de ces ions. Le temps écoulé entre le relâchement des impulsions et l'initiation des impulsions symétriques de l'instrument de temps de vol est réglé pour maximiser l'efficience du facteur d'utilisation ainsi que la sensibilité d'ions sélectionnés en fonction d'un rapport masse-charge souhaité. Cette technique peut servir à optimiser le rendement d'un balayage d'ions parents, d'un balayage pour imagerie par résonance magnétique ou d'un balayage de particules neutres perdues.

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